Уникальный комплекс для рентгеноструктурного анализа «Xenocs WAXS/SAXS X-ray System»

Перечень оборудования, содержащий наименование и основные характеристики приборов

Комплекс для рентгеноструктурного анализа «Xenocs WAXS/SAXS X-ray System» включает в себя следующие уникальные элементы: 

1) Два двумерных позиционно-чувствительных детектора Dectris и Rayonix, изготовленные в Швейцарии и США для проведения измерений в малых и больших углах дифракции одновременно (in situ), а также обеспечивающие возможность проведения абсолютных измерений (съемки образцов на просвет в области, граничащей с первичным пучком, включая и сам первичный пучок), не приводящих к повреждению детектора. Указанные детекторы обладают двумя уникальными особенностями: сверхвысокой чувствительностью, позволяющей улавливать даже единичные гамма-кванты рентгеновского излучения, и совершенным соотношением сигнал/шум, т.е. характеризуются практически полным отсутствием последнего. Сочетание этих двух фантастических свойств позволяет регистрировать сверхслабые рефлексы от слаборассеивающих образцов, при необходимости неограниченно увеличивая время экспозиции;

2) Система генерации рентгеновского излучения Genix3D (Франция), включающая в себя микрофокусный источник нового поколения с предельно низкой мощностью в 30 Вт, но позволяющая, между тем, обеспечить светосилу прибора, эквивалентную и даже превосходящую рентгеновские источники с вращающимся анодом, потребляющие около 20 КВт электроэнергии. Фактически, ближайшим конкурентом такого прибора являются лишь источники синхротронного излучения;

3) Современная система коллимации и фокусировки рентгеновского пучка, позволяющая получить размер пучка до 50х50мкм, а также вакуумная камера переменной длины, позволяющая получить разрешение прибора до 500 нм, достаточное для того, чтобы перекрыть «мертвую» область между рентгеновским и световым излучениями;

4) Тепловая камера Linkam (Голландия), дающая возможность проводить рентгеновские измерения в широком интервале температур (от -150 до +400 ^оC) при контролируемом с высокой точностью (±0,5 ^оC) охлаждении/нагревании образца.

Перечень применяемых ОИ методик измерений

1) Комплексный анализ структуры и теплофизических свойств тонких пленок и наноструктурированных материалов, используя методы рентгеновской дифракции в больших и малых углах, в том числе со скользящим и микрофокусным пучками, а также при нагреве и охлаждении образцы, а также дополнительные методы, доступные в лаборатории, в т.ч.:
- Методы дифференциальной сканирующей калориметрии,
- Методы механического анализа,
- Методы оптической микроскопии,
- Методы УФ-вид, ИК и Рамановской микроскопии.

2) Создание моделей формирования кристаллической и жидкокристаллической структуры различных классов материалов, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.

3) Создание моделей для супрамолекулярной морфологии для различных классов материалов, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.

4) Разработка подхода, описывающего формирование неравновесных кристаллических фаз через промежуточные метастабильные состояния, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.

Перечень выполняемых типовых работ и (или) оказываемых услуг с указанием единицы измерения выполняемой работы и (или) оказываемой услуги и их стоимость в рублях или порядок определения их стоимости

- Распределение частиц по размерам от нескольких нанометров до более чем 350 нм в диаметре
- Скорость кристаллизации и ламеллярная структура частично кристаллических полимеров
- Анализ размеров и формы поверхностно-активных веществ или белков в растворах
- Организация и ориентация наноматериалов на атомном или наномасштабе, в объемных фазах или на поверхности
- Исследования фазовой сегрегации в системах мягких сред
- In situ исследования переходов наноструктур

Условия допуска к работе на оборудовании ОИ

По индивидуальной договоренности

Документы

- положение об УНУ
- регламент оказания услуг с использованием УНУ
- порядок оказания услуг на УНУ
- план работы ОИ, содержащий информацию о текущей и планируемой загрузке оборудования;
- локальный акт владельца ОИ о создании ОИ;
- проект гражданско-правового договора о выполнении работ и (или) оказании услуг для проведения научных исследований, а также осуществления экспериментальных разработок.

Контакты

119991, Москва, ГСП-1, Ленинские горы, Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, дом 1, с.73, Лаборатория инженерного материаловедения. 

Руководитель и ответственный за УНУ:
Дмитрий Анатольевич Иванов,
телефон: +7 (495) 939-01-75
e-mail: dimitri.ivanov.2014@gmail.com